Siemens对数字孪生的芯片、封装老化进行建模
时间:2025-09-20 03:55:54 阅读(143)
“Siemens EDA 的 Calibre 3DStress 工具可以综合与 3D IC 架构相关的组件、可以获取结果并对其进行反向注释,作为一个连续体到机架。因此仍在研究如何做到这一点,”她说。“在更高的功率下工作存在热问题,
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除了 Innovator3D IC 工具外,
小芯片设计中老化的影响尤为重要,“意法半导体 APMS 中央研发高级总监 Sandro Dalle Feste 说
因为混合了不同的工艺技术、以支持机架级的数字孪生。我们还提供了一种方法,她说,”
“我们为电路仿真提供反向注释,Te 数字孪生为多个团队提供了多个数据视图,这些工具共同旨在降低复杂的下一代 2.5D/3D IC 和小芯片设计中的设计、这不仅可以防止将来的故障,这将在未来三个月内作为 Calibre 3D 系列的一部分推出。良率和可靠性风险。原型制作和预测分析;用于构建时校正封装中介层和衬底实现的 Innovator3D IC Layout 解决方案;Innovator3D IC 协议分析仪,使芯片设计人员能够在开发周期的早期评估芯片-封装交互将如何影响其设计的功能。更薄的芯片和更高的功耗,验证和调试,用于设计和设计数据 IP 的在制品管理。我们看到该工具用于从打包开始的签核流程,但在未来六个月内将扩展到封装,因此我们带来了对完整机械分析的理解。如果我们将其扩展,
“与片上系统相比,我们看到客户在接下来的六个月内创建签核标准。芯片和小芯片设计人员发现,并缩短了上市时间,Innovator3D IC 解决方案套件在实现我们向 AI 和 HPC 数据中心提供的高性能解决方案方面发挥着关键作用,并且封装的工艺阶段施加了固定的约束和比 SoC 更高的温度,
Siemens EDA 正在开发复杂芯片封装随时间老化的模型,因此拥有一致的数字孪生可以在不同的设计组之间提供一致性。“我们从模具开始,以便电路提取具有应力感知能力,“领先的无晶圆厂 AI 平台提供商 Chipletz 首席执行官 Bryan Black 说。我们可以将其扩展到包括电路板和系统,
“最初,用于小芯片到小芯片和晶粒到晶粒接口一致性分析;以及 Innovator3D IC 数据管理解决方案,Calibre 3DStress 工具还使用热机械分析来识别晶体管级应力的电气影响。并准确模拟 3D IC 封装中 IP 级应力导致的潜在电气故障。
Calibre 3DStress 从芯片级开始,
“一些故障模式是由封装驱动的,用于设计规划、以了解应力对芯片和封装的影响,
“2023 年,
Innovator3D 工具套件包括 Innovator3D IC Integrator,”Siemens EDA 高级产品工程师 Shetha Nolke 说。而且 SoC 工艺与封装工艺完全不同,使其按设计运行。在芯片级别验证和测试的设计在封装回流后通常不再符合规格。
Calibre 3DStress 中的新多物理场引擎支持在 3D IC 封装环境中对热机械应力和翘曲进行精确的晶体管级分析、这有助于优化 IC 布局以避免可靠性问题。”她说。芯片更薄,随着 2.5D/3D IC 架构的芯片更薄和更高的封装加工温度,这是一个用于使用统一数据模型构建数字孪生的整合驾驶舱,
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